run memtest pro是一款向用戶提供內(nèi)存燒機測試的軟件，它可以準(zhǔn)確測試內(nèi)存的抗壓能力，將數(shù)據(jù)具現(xiàn)化出來，讓用戶能直觀的表現(xiàn)出來。內(nèi)存超頻之后可以在短時間內(nèi)提升效率，提高內(nèi)存的讀寫速度，快來試試吧！

軟件簡介

我們可以使用runmemtestpro來對電腦內(nèi)存進行壓力測試，而且還可以進行內(nèi)存超頻處理，從而暫時提升內(nèi)存的效率。功能強大全面，簡單易操作，使用后可以幫助用戶更輕松便捷的測試內(nèi)存壓力。軟件可以為用戶提供內(nèi)存超頻處理，暫時的提高內(nèi)存的輸出效率，來檢測出內(nèi)存的最大性能。

run memtest pro內(nèi)容

自動計算公式為(執(zhí)行緒數(shù)量/總內(nèi)存)大于3117mb則多開一倍執(zhí)行緒。

燒機后(剩余內(nèi)存)大于(保留內(nèi)存)會啟動(自動補償)，會把剩余內(nèi)存全部放在保留內(nèi)存的mem內(nèi)。

設(shè)定時間0則不啟動，預(yù)設(shè)補償時間0秒，不啟動。

過測截圖：設(shè)定一個燒機門檻(百分比)，超過門檻后會自動截圖。

過測結(jié)束：過測截圖完成后自動結(jié)束memtest測試。

背景執(zhí)行：隱藏開啟mem test。

內(nèi)存極限超頻后驗證穩(wěn)定性 建議200%起步無錯誤

快捷鍵說明

f5：自動計算

f6：開啟memtest

f7：燒機

f8：關(guān)閉全部memtest

更新內(nèi)容

1，燒機時卡頓現(xiàn)象大幅改善；

2，測試時fail的線程將自動置頂+標(biāo)紅字；

3，修正“高級”功能項部分問題；